产品功能
1）SuperViewW1白光干涉表面形貌仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；
2）测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；
3）测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；
4）分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；
5）分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；
6）分析中同时提供*键分析和多文件分析等辅助分析功能。
SuperViewW1白光干涉表面形貌仪测量范围可从纳米*粗糙度到毫米*的表面形貌，可以快速获取被测工件表面三维形貌和数据进行检测，可用于成品质量的管理，确保良品合格率。测量过程简便，只需要操作者装好被测工件，在软件里设好视场参数，把物镜调节到被测工件表面，选择自动聚焦后，仪器就会主动找干涉条纹开始扫描测量。然后自动生成工件表面3D图像，*键输出反映工件表面质量的2D、3D参数，完成工件表面形貌*键测量。
应用*域
对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
结果组成：
1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；
3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；
5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；
6、微电子表面分析和MEMS表征。
具体应用：
在3C*域，可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度；
在LED行业，可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度；
在光纤通信行业，可以测量光纤端面缺陷和粗糙度；
在集成电路行业，可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；
在EMES行业，可以测量台阶高度和表面粗糙度；
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